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          HEKA微區掃描離子電導顯微鏡 SICM

          更新時間:2020-06-18

          型號:HEKA微區

          瀏覽量:724

          掃描離子電導顯微鏡 SICM屬于掃描探針顯微鏡,它是一種具有納米級分辨率的顯微技術。區別于其他掃描探針顯微技術, SICM能夠在樣品表面非接觸的條件下獲取樣品表面形貌特性信息,并且SICM對樣品本身沒有要求,也不需做任何預處理。
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